isp_siesta_201412.pdf

• научный сотрудник Руслан Анатольевич Жачук (моделирование, ТФП),
• старший научный сотрудник Сергей Александрович Тийс (эксперимент, СТМ)

'Тройные ступени на поверхности Si(111) широко используются для роста упорядоченно расположенных наноструктур однородных размеров. В проведенной работе мы использовали регулярную ступенчатую поверхность Si(7 7 10) в качестве модельной системы для изучения тройных ступеней с помощью сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и расчетов на основе теории функционала плотности (ТФП) (рис. 1a, b). В случае роста на ступенчатой поверхности регулярная ступенчатая структура определяет как положение, так и размер растущих нанопроволок и наноточек. Несмотря на то, что тройные ступени являются важной частью ландшафта поверхностей Si(111), их атомная структура до сих пор не является твердо установленной. Целью работы является установление структуры элементов реконструкции тройных ступеней и причин формирования их определенных изгибов.'

• R. Zhachuk, S. Teys, J. Coutinho, M. J. Rayson, and P. R. Briddon, “Static and dynamic buckling of reconstructions at triple steps on Si(111) surfaces” Applied Physics Letters (Impact Factor: 3.52). 10/2014; 105(10):171602-14904. DOI: 10.1063/1.4900783.
• Р.А. Жачук, Ж. Кутиньо, М.Ж. Рэйсон, П.Р. Бриддон, «Изгиб элементов реконструкции краев тройных ступеней на вицинальных поверхностях (111) Si», ЖЭТФ (Impact Factor: 0.931), 147, 729 (2015). DOI: 10.7868/S0044451015040072