"Моделирование поверхностной атомной диффузии методом молекулярной динамики". Павел Леонидович Новиков, ИФП СО РАН, 31.12.2014
Работа поддержана:
- грантом РНФ №14-12-00931 «Коллективные эффекты в усилении поглощения и излучения света ИК диапазона в наноструктурах на основе кремния», Двуреченский Анатолий Васильевич, 2012-2015
- программой Президиума РАН №1 «Фундаментальные проблемы математического моделирования», Двуреченский Анатолий Васильевич, 2012-2015
Состав коллектива
- Новиков Павел Леонидович., с.н.с. ИФП СО РАН, к.ф.-м.н., novikov@isp.nsc.ru
- Смагина Жанна Викторовна, н.с. ИФП СОРАН, к.ф.-м.н., smagina@isp.nsc.ru
- Ненашев Алексей Владимирович, с.н.с. ИФП СО РАН, nenashev@g.nsu.ru
Аннотация
Методом молекулярной динамики (МД) исследованы свойства структурированных подложек кремния, предназначенных для получения сверхплотных массивов квантовых точек германия. Для ямки с плоским дном построена карта потенциального рельефа. Анализ карты показал, что на краях плоского донышка расположены наиболее глубокие минимумы энергии (-2.7 эВ), которые способны служить центрами зарождения 3D-островков при D-островков при гетероэпитаксиальном росте на структурированных подложках. Таким образом, возможно образование 4-х наностровков на ямку. Проведен сравнительный анализ морфологий с четырьмя и с одним островком в ямке. Для обеих морфологий методом МД рассчитана величина удельной (на атом германия) энергии. Показано, что морфология с 4-мя островками в ямке является энергетически выгодной.
Публикации
- Smagina, Z.V. et al., «Nucleation sites of Ge nanoislands grown on pit-patterned Si substrate prepared by electron-beam lithography», Journal of Applied Physics, 2018, 123(16), 165302 (impact factor 2.4)
- Novikov, P.L. et al., «Simulating the nucleation and growth of Ge quantum dots on Si using high-efficiency algorithms», Nanotechnologies in Russia, 2015, 10(3-4), pp. 192-204 (impact factor 1.0)
- Novikov, P.L., Smagina, Z.V., Dvurechenskii, A.V., «Formation of germanium nanoislands on pit-patterned silicon substrates by means of the molecular dynamics method», Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing, 2014, 50(3), pp. 247-251 (impact factor 0.6)